[发明专利]一种基于电光调制边带的精密位移测量方法及装置有效
| 申请号： | 202110105425.9 | 申请日： | 2021-01-26 |
| 公开（公告）号： | CN112945108B | 公开（公告）日： | 2022-11-18 |
| 发明（设计）人： | 王建波;殷聪 | 申请（专利权）人： | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02;G01B9/02001;G01B9/02055 |
| 代理公司： | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人： | 申星宇 |
| 地址： | 100026 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： |
本发明属于精密位移测量技术领域，提供了一种基于电光调制边带的精密位移测量方法及装置，所述方法通过调节电光调制器的边带频率与干涉仪共振，获得干涉仪第一腔长对应的第一自由光谱范围Δν |
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| 搜索关键词： | 一种 基于 电光 调制 边带 精密 位移 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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