[发明专利]GaN基开关集成单元与GaN基开关管的晶圆结构的制备方法有效

专利信息
申请号: 202110111817.6 申请日: 2021-01-27
公开(公告)号: CN112992895B 公开(公告)日: 2023-01-24
发明(设计)人: 徐敏;张卫;王晨;徐赛生 申请(专利权)人: 复旦大学
主分类号: H01L27/085 分类号: H01L27/085;H01L21/8252;H02M3/155
代理公司: 上海慧晗知识产权代理事务所(普通合伙) 31343 代理人: 徐海晟;陈成
地址: 200433 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种GaN基开关集成单元与GaN基开关管的晶圆结构的制备方法,其中的制备方法,包括:在所述P型衬底上形成若干N阱;在所述P型衬底上依次外延多个外延层;基于所述多个外延层,形成每个GaN基开关管的器件层;其中的第一GaN基开关管的器件层形成在所述N阱上,第二GaN基开关管的器件层形成在所述N阱外的所述P型衬底上;在所述第一GaN基开关管的器件层与所述第二GaN基开关管的器件层上分别形成第一衬底连接部与第二衬底连接部。本发明兼顾了高侧管、低侧管的集成需求,以及高侧管、低侧管衬底电压变化的一致性。
搜索关键词: gan 开关 集成 单元 结构 制备 方法
【主权项】:
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