[发明专利]一种综合孔径微波辐射计全链路相位误差校准系统和方法有效
| 申请号： | 202110114673.X | 申请日： | 2021-01-27 |
| 公开（公告）号： | CN112904257B | 公开（公告）日： | 2022-05-31 |
| 发明（设计）人： | 董健;崔新东;孙彦龙;栾英宏;冯剑锋;徐红新;赵锋;钱巧元 | 申请（专利权）人： | 上海航天测控通信研究所;北京应用气象研究所 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 王晶;胡晶 |
| 地址： | 201109 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种综合孔径微波辐射计全链路相位误差校准系统和方法，所述系统包括：综合孔径微波辐射计、指向校准天线、北斗时间系统、北斗定位系统、方位俯仰跟踪驱动系统、地测设备；所述指向校准天线，安装在所述综合孔径微波辐射计上，用于综合孔径微波辐射计的指向校准；所述北斗时间系统，用于向所述校准系统提供时间信息；所述北斗定位系统，用于确定综合孔径微波辐射计所在位置的经度、纬度和海拔高度；所述方位俯仰跟踪驱动系统用于驱动所述综合孔径微波辐射计和所述指向校准天线，以跟踪天空星体运动；所述地测设备，用于控制所述方位俯仰跟踪驱动系统运动，并收集和处理数据。与现有技术相比，本发明可以提高全链路相位误差校准精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 综合 孔径 微波 辐射计 全链路 相位 误差 校准 系统 方法 | ||
【主权项】：
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