[发明专利]测试模式进入控制方法有效
| 申请号： | 202110118640.2 | 申请日： | 2021-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN112904182B | 公开（公告）日： | 2021-12-07 |
| 发明（设计）人： | 李兵;黄征;刁永翔;张辅云 | 申请（专利权）人： | 无锡众星微系统技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京动力号知识产权代理有限公司 11775 | 代理人： | 董钢;梁凡丽 |
| 地址： | 214000 江苏省无锡市新吴区*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种测试模式进入控制方法，用于控制测试设备对待测试芯片的测试，包括：通过所述待测试芯片的安全测试认证系统对测试设备的身份合法性进行认证；仅当确定测试设备通过所述身份合法性认证时，允许所述测试设备通过测试接口对所述待测试芯片进行测试，否则禁止所述测试设备对所述待测试芯片进行测试。本发明的方法既可以满足芯片在整个产品生产测试阶段、产品化阶段可测试性的需求，又可以满足安全性的要求，从而有效的保护芯片内的资产和信息的安全。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 模式 进入 控制 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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