[发明专利]用于芯片电磁干扰测试的测试装置及测试方法在审
| 申请号： | 202110122430.0 | 申请日： | 2021-01-29 |
| 公开（公告）号： | CN112505467A | 公开（公告）日： | 2021-03-16 |
| 发明（设计）人： | 田露;乔彦彬;李纪平;张婧晶;宋蕾;原义栋;张海峰 | 申请（专利权）人： | 北京智芯微电子科技有限公司;国网信息通信产业集团有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人： | 肖冰滨;王晓晓 |
| 地址： | 100192 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及电磁干扰测试技术领域，提供一种用于芯片电磁干扰测试的测试装置及测试方法。所述测试装置包括：测试主板、信号发生器、耦合网络探头以及用于放置芯片的测试子板；所述测试子板包括与芯片的多个引脚对应连接的引出电路；所述耦合网络探头与引出电路和信号发生器连接，用于将信号发生器产生的电磁干扰信号传递至引出电路，以通过引出电路将电磁干扰信号引入芯片；所述测试主板与所述测试子板连接，用于获取芯片在所述电磁干扰信号的干扰下产生的信号数据。本发明通过将电磁干扰信号直接引入集成电路芯片，以准确评估芯片各个引脚的抗电磁干扰能力，为改进芯片内部电路设计提供参考，以提升芯片的抗电磁干扰能力。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 芯片 电磁 干扰 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京智芯微电子科技有限公司;国网信息通信产业集团有限公司，未经北京智芯微电子科技有限公司;国网信息通信产业集团有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110122430.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：多波束馈电网络装置和卫星系统
- 下一篇：全地形车的降噪控制方法和降噪控制系统
