[发明专利]测试集成电路的方法在审
| 申请号： | 202110127190.3 | 申请日： | 2021-01-29 |
| 公开（公告）号： | CN113267719A | 公开（公告）日： | 2021-08-17 |
| 发明（设计）人： | 吴奇哲;洪宗扬;王明義 | 申请（专利权）人： | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 徐金国 |
| 地址： | 中国台湾新竹市*** | 国省代码： | 台湾;71 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本案中提供一种测试集成电路的方法。方法包括若干操作：由处理单元产生与多个扫描链及多个移位循环相关联的映射表，移位循环对应于储存于集成电路中的扫描链中的多个值；响应于自扫描链输出的值，基于映射表判定扫描链中的至少一个不合格正反器；以及识别对应于至少一个不合格正反器的至少一个故障位置。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 集成电路 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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