[发明专利]一种基于电离层测高仪的扰动观测方法在审
| 申请号： | 202110131839.9 | 申请日： | 2021-01-30 |
| 公开（公告）号： | CN112924963A | 公开（公告）日： | 2021-06-08 |
| 发明（设计）人： | 朱正平;蓝加平 | 申请（专利权）人： | 中南民族大学 |
| 主分类号： | G01S13/88 | 分类号： | G01S13/88;G01S7/41 |
| 代理公司： | 成都鱼爪智云知识产权代理有限公司 51308 | 代理人： | 王珍 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种基于电离层测高仪的扰动观测方法，涉及电离层扰动观测领域。一种基于电离层测高仪的扰动观测方法，包括如下步骤：端口初始化：监控系统时间并判断时间是否到达指定时长；生成数据文件：通过端口写入控制到DDS板和RCVR板，开始扫频；系统启动：启动DDS板产生频率信号、相位编码和双相调制，运行脉冲集，启动MCU、发射编码脉冲；定时采集：一定时间后，停止发射编码脉冲，采集140或170组回波信号，判断脉冲集是否运行完，当运行未完成时进入下一步骤，否则重新进行所述系统启动步骤。能够实现实时获取高精度多普勒频高图，便于对电离层扰动进行观测和分析。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 电离层 测高仪 扰动 观测 方法 | ||
【主权项】：
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