[发明专利]静电卡盘及半导体加工设备有效
申请号: | 202110139476.3 | 申请日: | 2021-02-02 |
公开(公告)号: | CN112582329B | 公开(公告)日: | 2021-08-13 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 北京中硅泰克精密技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683;H01L21/67 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 彭瑞欣;王婷 |
地址: | 100176 北京市北京经济技*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种静电卡盘及半导体加工设备,其包括卡盘本体和与卡盘本体连接的基座,其中,在卡盘本体与基座彼此相对的表面之间设置有匀热层和粘接层,其中,粘接层环绕在匀热层的周围,用以将卡盘本体与基座粘接;匀热层的热导率高于粘接层的热导率,用以在卡盘本体与基座之间进行热交换。本发明提出的静电卡盘及半导体加工设备,其能够提高卡盘本体与基座之间的匀热效果,从而提升静电卡盘对待加工工件的温度调节效果。 | ||
搜索关键词: | 静电 卡盘 半导体 加工 设备 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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