[发明专利]光掩膜版的形成方法及光掩膜版有效

专利信息
申请号: 202110141604.8 申请日: 2021-02-02
公开(公告)号: CN112731759B 公开(公告)日: 2023-04-07
发明(设计)人: 朱中钦 申请(专利权)人: 长鑫存储技术有限公司
主分类号: G03F1/42 分类号: G03F1/42;G03F1/44
代理公司: 上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294 代理人: 孙佳胤;陈丽丽
地址: 230601 安徽省合肥市*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明涉及一种光掩膜版的形成方法及光掩膜版。所述光掩膜版的形成方法包括如下步骤:提供基底,所述基底具有芯片区域、以及位于芯片区域相对两侧的第一切割道和第二切割道;于第一切割道中形成第一组标记、并于第二切割道中形成第二组标记,第一组标记包括沿第一切割道的延伸方向交替排布的第一子标记组和第一间隔,第二组标记包括沿第二切割道的延伸方向交替排布的第二子标记组和第二间隔,第一子标记组与第二间隔对准排布、且第二子标记组与第一间隔对准排布。本发明使得在切割道宽度较窄的情况下也能够满足在芯片区域相对两侧的切割道中各形成一组标记的要求。
搜索关键词: 光掩膜版 形成 方法
【主权项】:
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