[发明专利]一种基于分布式光调制的原子磁梯度测量装置及测量方法有效

专利信息
申请号: 202110144547.9 申请日: 2021-02-02
公开(公告)号: CN113009385B 公开(公告)日: 2022-02-15
发明(设计)人: 徐馥芳;李莹颖;马明祥;谢玉波;万伏彬;汪杰;罗玉昆 申请(专利权)人: 中国人民解放军军事科学院国防科技创新研究院
主分类号: G01R33/032 分类号: G01R33/032
代理公司: 长沙七源专利代理事务所(普通合伙) 43214 代理人: 周晓艳;张勇
地址: 100071 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开一种基于分布式光调制的原子磁梯度测量装置及测量方法,该测量装置包括泵浦光路模块、探测光路模块、原子气室、温度控制模块和信号分析控制模块,对经过两个原子气室中的两路泵浦光分别进行光功率调制,对经过两个原子气室中的同一路探测光进行空间分离的偏振态调制,在不增加激光光源和探测器的前提下实现了双通道的原子磁梯度测量,有效提高磁场测量的抗干扰能力和磁异常测量灵敏度;本发明利用功率调制的泵浦光实现两个原子磁场通道中原子自旋的激励,通过控制泵浦光束的光束直径和行进路径,有效避免两个磁场测量通道之间的耦合,实现原子自旋共振激励的完全隔绝,避免双通道磁测量信号之间的串扰,获得更加准确的磁梯度测量结果。
搜索关键词: 一种 基于 分布式 调制 原子 梯度 测量 装置 测量方法
【主权项】:
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