[发明专利]利用紫外臭氧修复微流控芯片内碳电极电化学性能的方法有效
| 申请号： | 202110146950.5 | 申请日： | 2021-02-03 |
| 公开（公告）号： | CN113009225B | 公开（公告）日： | 2023-01-10 |
| 发明（设计）人： | 王敬 | 申请（专利权）人： | 大连民族大学 |
| 主分类号： | G01N27/02 | 分类号： | G01N27/02;G01R27/02;G01N27/48 |
| 代理公司： | 大连至诚专利代理事务所(特殊普通合伙) 21242 | 代理人： | 杜广虎;张海燕 |
| 地址： | 116000 辽宁省*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种利用紫外臭氧修复微流控芯片内碳电极电化学性能的方法，本发明通过将紫外臭氧清洗机产生的紫外臭氧气流导入到微流控芯片内，利用紫外臭氧与集成在微流控芯片中碳电极表面的有机污染物发生化学反应生成挥发性气体，实现微流控芯片中污染碳电极电化学性能的修复，最终确保利用碳电极进行重复性测试时实验数据的准确性。该方法操作简单方便、通用性强、经济性好。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 紫外 臭氧 修复 微流控 芯片 电极 电化学 性能 方法 | ||
【主权项】：
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