[发明专利]一种基于结构化低维纳米材料阵列的多维光参量探测器

摘要

一种基于结构化低维纳米材料阵列的多维光参量探测器，涉及光电探测技术领域，解决了探测系统体积庞大结构复杂的问题，包括基板和偏振窄带滤光探测单元，不同偏振窄带滤光探测单元之间的中心波长不同，偏振窄带滤光探测单元包括偏振探测单元阵列和设置在偏振探测单元上的窄带滤光膜，偏振探测单元包括N种偏振探测机构，N种偏振探测机构能够吸收N种偏振角度的线偏振光，偏振探测机构包括纳米条阵列和金属电极，金属电极连接纳米条阵列且和纳米条阵列一一对应设置，纳米条阵列的纳米条为纳米线或纳米带，纳米条阵列的材料为具有光电响应能力的二维材料。本发明缩小了成像探测系统的体积、简化了其结构，成像效率高，运行和维护成本得以减低。