[发明专利]实现本振泄漏快速校准的方法、系统、装置、处理器及其计算机可读存储介质有效
| 申请号： | 202110154358.X | 申请日： | 2021-02-04 |
| 公开（公告）号： | CN112953657B | 公开（公告）日： | 2022-12-30 |
| 发明（设计）人： | 刘景鑫 | 申请（专利权）人： | 上海创远仪器技术股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/11 | 分类号： | H04B17/11 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人： | 王洁;郑暄 |
| 地址： | 201601 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种实现本振泄漏快速校准的方法，包括选取(0，0)点作为参考点，测量本振泄漏功率；随机选取多个参考点，测量多组对应的本振泄漏功率；消去功率因子A；化简得到圆方程；基于最小二乘原理列出所有圆方程的交点误差E(x，y)；利用牛顿法迭代寻找E(x，y)的最小值，得到目标值。本发明还涉及相应的系统、装置、处理器及其计算机可读存储介质。采用了本发明的实现本振泄漏快速校准的方法、系统、装置、处理器及其计算机可读存储介质，大幅度减少本振泄漏校准的测量次数，进而缩短所需的校准时间，校准效率更高。理论上最少只需测量4组不同偏置I和偏置Q的本振泄漏功率，就能直接解出目标值；而测量的点数越多，解出的目标值准确度越高。 | ||
| 搜索关键词： | 实现 泄漏 快速 校准 方法 系统 装置 处理器 及其 计算机 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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