[发明专利]二碲化硅二维晶体材料及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202110156263.1 申请日: 2021-02-04
公开(公告)号: CN114855282A 公开(公告)日: 2022-08-05
发明(设计)人: 宋志朋;路红亮;林晓;高鸿钧 申请(专利权)人: 中国科学院大学;中国科学院物理研究所
主分类号: C30B29/46 分类号: C30B29/46;C30B29/64;C30B25/18
代理公司: 北京市正见永申律师事务所 11497 代理人: 黄小临;冯玉清
地址: 100049 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 提供了一种二碲化硅二维晶体薄膜材料及其制备方法。根据一实施例,该制备方法包括如下步骤:1)在真空条件下,对硅单晶进行快速加热和快速降温处理,从而得到重整的表面;2)通过蒸发源将高纯度的Te沉积到衬底表面。在沉积过程中,使硅单晶衬底保持在设定的温度,从而使得Te和Si单晶充分反应,形成具有周期性结构的二维晶体薄膜SiTe2。通过低能电子衍射可确定这种新型二维材料的晶格排列周期。本发明通过以硅衬底为反应材料直接生长二维晶体薄膜SiTe2,扩展了二维原子晶体材料的研究领域,在未来纳米电子学领域具有广泛的应用潜力。
搜索关键词: 二碲化硅 二维 晶体 材料 及其 制备 方法
【主权项】:
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