[发明专利]一种双滚转跟踪去耦控制方法及系统有效

专利信息
申请号: 202110157182.3 申请日: 2021-02-04
公开(公告)号: CN112946879B 公开(公告)日: 2023-02-03
发明(设计)人: 张巍巍;印剑飞;吴昊;杨波;曹熙卿 申请(专利权)人: 上海航天控制技术研究所
主分类号: G02B27/00 分类号: G02B27/00;G02B7/18
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 褚鹏蛟
地址: 201109 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种双滚转跟踪去耦控制方法,步骤如下:S1计算弹体相对于惯性空间的旋转角速度在惯性系的投影;S2计算弹体相对于惯性空间的旋转角速度在弹体系的投影;S3计算弹体相对于惯性空间的旋转角速度在成像系统系的投影;S4将该速度作为负反馈,闭环到双滚转控制回路中,抵消弹体摆动引起的光轴晃动,实现去耦。利用惯组测量的弹体姿态信息进行去耦解算,无需成像系统内部安装惯性测量元件。相对于框架式产品,双滚转结构上不需要安装速率陀螺等测量元件,既减轻了重量,也减小了制造成本,满足现代产品小型化设计需求。
搜索关键词: 一种 双滚转 跟踪 控制 方法 系统
【主权项】:
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