[发明专利]一种阵列天线近场校准系统及方法在审

专利信息
申请号: 202110160102.X 申请日: 2021-02-05
公开(公告)号: CN112904095A 公开(公告)日: 2021-06-04
发明(设计)人: 陈晓明;陈瑞海 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10
代理公司: 西安智大知识产权代理事务所 61215 代理人: 王晶
地址: 710049 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 一种阵列天线近场校准系统及方法,包括待测阵列天线,所述阵列天线一共有N个天线单元,每个天线单元配备一个数字移相器进行相位控制,位于在待测阵列天线的近场放置有平面波生成器,所述平面波生成器用于在待测阵列天线处产生准平面波,所述阵列天线的各通道连接矢量网络分析仪一端,矢量网络分析仪一端另一端连接平面波生成器。本发明通过平面波生成器在待测天线近场产生准平面波,较远场测试方法显著减小测试所需微波暗室的大小,避免了电磁波传播距离较长造成的路径损耗引起的误差,将平面波生成器看作等效的远场单探头测量系统,具有测量耗时短、占用空间小、成本低廉的特点。
搜索关键词: 一种 阵列 天线 近场 校准 系统 方法
【主权项】:
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