[发明专利]一种多谱段光电器件联合工业验证系统及其使用方法在审

专利信息
申请号: 202110162341.9 申请日: 2021-02-05
公开(公告)号: CN112986256A 公开(公告)日: 2021-06-18
发明(设计)人: 卢铁林;汪烁;岳磊;李晓文;樊子天;尚羽佳;冯夏维 申请(专利权)人: 机械工业仪器仪表综合技术经济研究所
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G01N21/01
代理公司: 合肥方舟知识产权代理事务所(普通合伙) 34158 代理人: 刘跃
地址: 100055 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种多谱段光电器件联合工业验证系统及其使用方法。本发明中,通过研究多谱段器件在电力实际应用能力,建立器件评测试验技术及装置,并完成关键技术标准。针对器件评测技术,拟采用控制变量的研究方法,模拟电力实际的应用场景,提取性能影响量评价指标,探究器件联合应用的最优方案,先通过电力模拟实验环境完成三种光电器件的功能性应用测试,实现多种探测器在复杂场景内的高精度、高稳定、高效率输出,开发精准可靠的多谱段器件应用验证测试系统,准确地可视化呈现器件探测结果状态,提出评价器件质量的多维度指标体系,基于评价指标优化器件的设计制造,为智能制造自动化设备现场监测等工业领域应用提供集成解决方案。
搜索关键词: 一种 多谱段 光电 器件 联合 工业 验证 系统 及其 使用方法
【主权项】:
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