[发明专利]一种单晶硅光伏电池裂纹缺陷的检测方法有效
| 申请号： | 202110165990.4 | 申请日： | 2021-02-05 |
| 公开（公告）号： | CN112991264B | 公开（公告）日： | 2023-08-11 |
| 发明（设计）人： | 戴芳;余可欣;赵凤群;杨畅民 | 申请（专利权）人： | 西安理工大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/13;G06V10/74;G06V10/762 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 贺小停 |
| 地址： | 710048*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明提供的一种单晶硅光伏电池裂纹缺陷的检测方法，将无缺陷单晶硅光伏电池图像的边缘点特征进行聚类分析，通过判断待检图像的边缘点是否处于所有类簇之中，从而找到缺陷点所在，实现了单晶硅光伏电池图像裂纹缺陷的检测；具体地，是利用改进的Haar‑l ike提取边缘点的特征，利用极值聚类对特征向量进行聚类，形成类簇，接着改变极值聚类的聚类中心，能显著地提高单晶硅光伏电池裂纹缺陷检测的准确率；同时在聚类过程中只使用采集到的无缺陷图像，省略了收集缺陷图像的过程；该检测方法不依赖于人为检测经验，检测准确率高，降低了检测成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 单晶硅 电池 裂纹 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
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