[发明专利]MIM电容器及其形成方法在审

专利信息
申请号: 202110168187.6 申请日: 2021-02-07
公开(公告)号: CN113889573A 公开(公告)日: 2022-01-04
发明(设计)人: 林杏莲;李正德;朱瑞霖;吴启明;杜友伦;喻中一 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L49/02 分类号: H01L49/02
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 代理人: 章社杲;李伟
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 本申请的各个实施例涉及金属‑绝缘体‑金属(MIM)电容器。该MIM电容器包括布置在半导体衬底上方的底部电极。顶部电极布置在底部电极上方并位于该底部电极上面。电容器绝缘体结构布置在底部电极与顶部电极之间。该电容器绝缘体结构包括彼此垂直堆叠的至少三个介电结构。就所述介电结构的介电材料而言,该电容器绝缘体结构的下半部是其上半部的镜像。本申请的实施例还涉及用于形成金属‑绝缘体‑金属(MIM)电容器的方法。
搜索关键词: mim 电容器 及其 形成 方法
【主权项】:
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