[发明专利]硅基CdTe-GeSn-CdTe异质横向PiN二极管的制备方法及其器件在审

专利信息
申请号: 202110168695.4 申请日: 2021-02-07
公开(公告)号: CN112993044A 公开(公告)日: 2021-06-18
发明(设计)人: 苏汉;王华剑 申请(专利权)人: 中国人民武装警察部队工程大学
主分类号: H01L29/868 分类号: H01L29/868;H01L29/06;H01L21/329
代理公司: 西安铭泽知识产权代理事务所(普通合伙) 61223 代理人: 姬莉
地址: 710086 陕西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种硅基CdTe‑GeSn‑CdTe异质横向PiN二极管的制备方法及其器件,制备方法包括:选取GeOI衬底并在GeOI衬底内掺杂形成顶层GeSn区;在衬底顶层GeSn区内设置深槽隔离区;刻蚀GeSn区,形成深度小于顶层GeSn区厚度的P型沟槽和N型沟槽;在P型沟槽和N型沟槽内采用离子注入形成P型有源区和N型有源区;在衬底上形成GeSn合金引线,以完成硅基CdTe‑GeSn‑CdTe异质横向PiN二极管的制备。本发明二极管通过顶层GeSn区的引入极大的提高了载流子迁移率以及分布均匀性,同时极大的提高了载流子输运特性,显著的改善了固态等离子体PiN二极管微波特性。
搜索关键词: 硅基 cdte gesn 横向 pin 二极管 制备 方法 及其 器件
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