[发明专利]一种光纤微弯损耗的测试方法在审
| 申请号： | 202110168759.0 | 申请日： | 2021-02-07 |
| 公开（公告）号： | CN113029522A | 公开（公告）日： | 2021-06-25 |
| 发明（设计）人： | 沈小平;沈杰;沈建鑫;石碧波;李忠梁;倪潇红;魏文涛;白晓明 | 申请（专利权）人： | 通鼎互联信息股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 苏州知途知识产权代理事务所(普通合伙) 32299 | 代理人： | 马刚强;张钢锋 |
| 地址： | 215233 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光纤微弯损耗的测试方法，其技术方案要点是：包括以下步骤：步骤一.调试：首先在测试场地内使用筛选机对测试光纤进行调试，使测试光纤的排线完好无破损；步骤二.预热：启动光时域反射仪对测试光纤进行预热，预热时间为0.2‑0.8h，在预热时保持光时域反射仪的工作功率稳定；步骤三.首测：根据后向散射法使用光时域反射仪测量测试光纤前450m的衰减系数，并将测试的记录数据值记为α1；测试简单高效易操作，测试结果精准无误差，且贴合实际，测试光纤处于砂纸的粗糙面上，并且处于一定的张力下，模拟了外部因素对光纤造成的微弯，其附加衰减测试简单，可参靠性高，利于厂家选用合适的光纤。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 纤微 损耗 测试 方法 | ||
【主权项】：
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