[发明专利]芯片自动检测设备在审
| 申请号： | 202110177578.4 | 申请日： | 2021-02-09 |
| 公开（公告）号： | CN113003203A | 公开（公告）日： | 2021-06-22 |
| 发明（设计）人： | 彭兴义 | 申请（专利权）人： | 江苏芯丰集成电路有限公司 |
| 主分类号： | B65G47/90 | 分类号： | B65G47/90;B65G47/82;B65G47/34;B65G21/20;B65G15/60;G01R31/28 |
| 代理公司： | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人： | 王健 |
| 地址： | 224015 江苏省盐城市盐都*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种芯片自动检测设备，包括基板和芯片检测电路板，所述芯片检测电路板通过螺钉安装在基板的顶部，所述基板的底部通过螺钉安装有步进电机，所述步进电机的活动端贯穿基板的表面并延伸至基板的上方，所述固定轴的一端通过螺钉安装有第一支撑板，所述轴承的外圈与长条板的内壁紧配安装，两个所述转动轴的表面之间紧配套设有输送皮带，所述第一伺服电机通过螺钉安装在基板的顶部，两个所述长条板的一端延伸至第二支撑板的下方，其中一个所述第二支撑板的侧面贯穿安装有推料机构。本发明实现对芯片在送料机构、芯片检测电路板和落料口之间的快速取放，提高对芯片进行检测的效率和自动化程度。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 自动检测 设备 | ||
【主权项】：
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