[发明专利]芯片生产测试阶段的密钥烧录方法有效
| 申请号： | 202110178022.7 | 申请日： | 2021-02-08 |
| 公开（公告）号： | CN112994893B | 公开（公告）日： | 2021-12-14 |
| 发明（设计）人： | 李兵;黄征;刁永翔;张辅云 | 申请（专利权）人： | 无锡众星微系统技术有限公司 |
| 主分类号： | H04L9/32 | 分类号： | H04L9/32;H04L9/08;G06F8/654 |
| 代理公司： | 北京动力号知识产权代理有限公司 11775 | 代理人： | 董钢;梁凡丽 |
| 地址： | 214000 江苏省无锡市新吴区*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种芯片生产测试阶段的密钥烧录方法，通过待烧录芯片对测试设备进行身份认证；当测试设备通过身份认证时，允许测试设备对所述待烧录芯片进行密钥烧录，以将待烧录密钥烧录到芯片中；当测试设备未通过身份认证时，禁止所述密钥烧录；其中所述待烧录密钥预先通过所述待烧录芯片内产生的会话密钥进行加密后传送到芯片中。本发明在芯片密钥烧录之前实现测试设备的身份合法性认证，待烧录密钥和身份验证随机数是通过动态会话密钥加密后共同以密文形式传输到待烧录芯片中的，防止了密钥泄露和破解的风险，从而实现了安全的密钥烧录。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 生产 测试 阶段 密钥 方法 | ||
【主权项】：
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