[发明专利]GaN器件结构及其制备方法有效
申请号: | 202110181529.8 | 申请日: | 2021-02-09 |
公开(公告)号: | CN112993033B | 公开(公告)日: | 2022-07-08 |
发明(设计)人: | 莫炯炯;郁发新;吕贝贝;赵文杰;郎加顺 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | H01L29/778 | 分类号: | H01L29/778;H01L21/335 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 佟婷婷 |
地址: | 310058 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明提供一种GaN器件结构及其制备方法,制备包括:提供衬底;制备外延结构、辅助功能部以及器件电极,所述辅助功能结构包括若干个叠置的且为p型掺杂层的辅助单元层,辅助掺杂层的掺杂浓度自下层至上层逐渐增加。通过引入多层p型掺杂且浓度渐变的辅助功能部,辅助功能部同时作为器件的帽层结构,可以使得当栅极电压不断增加时,空穴开始注入沟道并产生相等数量的电子,从而增加2DEG。具有高迁移率的电子将在电场的作用下到达漏极,而空穴将保留,因为它们的迁移率远低于电子,从而电流通过注入的空穴数量进行调制,可以在跨导曲线中显示一个双峰,有效改善器件的线性度。 | ||
搜索关键词: | gan 器件 结构 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
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