[发明专利]一种用于线激光蒙皮对缝测量的光条细化方法在审
| 申请号： | 202110182592.3 | 申请日： | 2021-02-08 |
| 公开（公告）号： | CN112906711A | 公开（公告）日： | 2021-06-04 |
| 发明（设计）人： | 李泷杲;黄翔;李根;鲁小翔;楼佩煌;钱晓明;陶克梅;王静波 | 申请（专利权）人： | 南京航空航天大学;南京航空航天大学苏州研究院 |
| 主分类号： | G06K9/44 | 分类号： | G06K9/44;G06K9/40;G06K9/46 |
| 代理公司： | 苏州国卓知识产权代理有限公司 32331 | 代理人： | 康进广 |
| 地址： | 210016*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种用于线激光蒙皮对缝测量的光条细化方法，涉及图像处理技术领域；包括如下步骤：根据光条端点序号识别对缝测量区域；对识别出的对缝测量区域图像采用自适应全变分滤波函数去除光条图像噪声；采用改进的模糊C均值方法分割光条图像，将光条从原图像中分离出来；采用基于骨架提取模板与区域灰度重心的方法提取光条中心，获取蒙皮表面线激光光条的中心像素坐标。本发明的优点在于：1)快速识别对缝测量区域，提高后续图像处理效率；2)能够显著去除光条图像中的高斯噪声和椒盐噪声，有效提高图像信噪比；3)通过优化后的模糊C均值算法提高了光条分割方法对图像噪声的抗干扰性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 激光 蒙皮 测量 细化 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京航空航天大学;南京航空航天大学苏州研究院，未经南京航空航天大学;南京航空航天大学苏州研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110182592.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种多标的物拍卖竞价系统及方法
- 下一篇：一种挂接式精量播种机
