[发明专利]一种温度-应力耦合的X射线原位测量装置有效
| 申请号： | 202110183632.6 | 申请日： | 2021-02-08 |
| 公开（公告）号： | CN112986292B | 公开（公告）日： | 2023-06-09 |
| 发明（设计）人： | 张兴民;李丽;邓江宁;冯尚蕾;高兴宇 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海应用物理研究所 |
| 主分类号： | G01N23/20033 | 分类号： | G01N23/20033;G01N23/207;G01K7/02 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人： | 邓琪 |
| 地址： | 201800 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种温度‑应力耦合的X射线原位测量装置，包括：主体框架，包括两条长边和两条短边，并环绕组成回字形结构；固定装置，包括托条以及与托条固定连接的立柱；加载装置，包括用于夹持样品的夹持组件以及与夹持组件滑动配合的滑动组件；驱动装置，包括固定块以及分别安装于固定块两侧的电机和传送装置；以及与主体框架可拆卸连接的温度装置。本发明能够在高温和应力同时存在的环境中对物质结构变化进行表征，同时能够更好地控制加热过程，准确测量温度，并能够兼顾X射线表征的反射和透射两种测量模式。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 温度 应力 耦合 射线 原位 测量 装置 | ||
【主权项】：
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