[发明专利]一种平行坐标图的密度失真与重影簇的反走样方法在审

专利信息
申请号: 202110187995.7 申请日: 2021-02-07
公开(公告)号: CN112860783A 公开(公告)日: 2021-05-28
发明(设计)人: 秦红星;李珍珍 申请(专利权)人: 重庆邮电大学
主分类号: G06F16/26 分类号: G06F16/26;G06F16/28;G06T11/20
代理公司: 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 代理人: 赵荣之
地址: 400065 *** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明涉及一种平行坐标图的密度失真与重影簇的反走样方法,属于数据可视化应用技术领域。该方法包括以下步骤:S1:在像素屏幕空间来研究不同的视觉结构,将数据值映射为像素坐标,并定义一维轴直方图和二维轴对直方图;S2:计算像素空间形式化过度绘图的程度以及其他已有度量指标;S3:计算平行坐标图不同轴对的组合矩阵,以及其对应的所有度量指标加权平均后的值形成cost矩阵,以最佳轴对序列对平行坐标图进行维度重排,并基于斜率渲染折线得到改进后的平行坐标图。本发明有利于在基于斜率渲染折线的基础上减少平行坐标图密度失真与重影簇现象的出现,并有效地提高用户对数据中类簇的识别。
搜索关键词: 一种 平行 标图 密度 失真 重影 走样 方法
【主权项】:
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