[发明专利]集合耦合、NA控制及检测的NA耦合装置及搭建方法有效

专利信息
申请号: 202110188130.2 申请日: 2021-02-10
公开(公告)号: CN112965180B 公开(公告)日: 2022-07-05
发明(设计)人: 潘华东;黄盟;李泉灵;王俊;闵大勇 申请(专利权)人: 苏州长光华芯光电技术股份有限公司;苏州长光华芯半导体激光创新研究院有限公司
主分类号: G02B6/42 分类号: G02B6/42;H01S3/00
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 代理人: 薛异荣
地址: 215000 江苏省苏州市高新区昆仑山路189号*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 本申请提供一种集合耦合、NA控制及检测的NA耦合装置及方法,NA耦合装置包括底板,在底板上,设置有:载物台,垂直设于底板上,用于放置待耦合激光器;功率检测器,垂直设于底板上,设置在载物台的一侧,用于检测载物台上的待耦合激光器的功率;NA控制结构,垂直设置于底板上,设置于载物台与功率检测器之间,用于对待耦合激光器的输出光束附加光阑;位置调整装置,垂直设置于底板上,用于调整待耦合激光器的位置,以根据功率确定待耦合激光器的位置,本方案,集和耦合、NA控制、待耦合激光器的NA检测于一体,节省了空间,实现上述功能可在一台机器上完成,无需更换装置,提高了耦合激光器生产作业效率。
搜索关键词: 集合 耦合 na 控制 检测 装置 搭建 方法
【主权项】:
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