[发明专利]光检测系统、放电概率算出方法以及受光量测定方法在审
| 申请号： | 202110189921.7 | 申请日： | 2021-02-18 |
| 公开（公告）号： | CN113340416A | 公开（公告）日： | 2021-09-03 |
| 发明（设计）人： | 小沼骏;森雷太 | 申请（专利权）人： | 阿自倍尔株式会社 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42;G01J1/44;F23M11/04 |
| 代理公司： | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人： | 肖华 |
| 地址： | 日本东京都千*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及光检测系统、放电概率算出方法以及受光量测定方法，算出光传感器的正规放电的概率。本发明的光检测系统具备：光传感器；外加电压生成电路，其向光传感器施加驱动脉冲电压；放电判定部，其检测光传感器的放电；放电概率算出部，其针对第1、第2状态各方算出放电概率，第1状态是使来自已知光量的追加光源的光入射至光传感器或将追加光源熄灭，第2状态的追加光源的点亮/熄灭的状态不同于第1状态、驱动脉冲电压的脉宽与第1状态相同；灵敏度参数存储部，其存储光传感器的灵敏度参数；以及放电概率算出部，其根据灵敏度参数、第1、第2状态时的放电概率以及第1、第2状态时的驱动脉冲电压的脉宽来算出光传感器的正规放电的放电概率。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 系统 放电 概率 方法 以及 受光量 测定 | ||
【主权项】：
暂无信息
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