[发明专利]适应低温真空冷舱环境的微弱红外辐射度测量装置及方法有效

专利信息
申请号: 202110190177.2 申请日: 2021-02-18
公开(公告)号: CN112964714B 公开(公告)日: 2022-03-04
发明(设计)人: 王欣 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84;G01N21/01;G01V8/10
代理公司: 北京圣州专利代理事务所(普通合伙) 11818 代理人: 王振佳
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种适应低温真空冷舱环境的微弱红外辐射度测量装置,包括低温真空冷舱,低温真空冷舱内部布置由低温控制反射式斩波器、低温电机、液氮制冷辐射体、设定发射率控温辐射体、被测红外辐射体、红外镜头、冷光阑和红外探测器组成的光学探测设备;低温真空冷舱外部布置由信号处理机构、驱动控制机构和温度控制机构组成的控制设备。本发明采用上述结构的适应低温真空冷舱环境的微弱红外辐射度测量装置,首先采用设定发射率、温度和辐射光谱的辐射体对测量装置进行标定,得到信号幅值与探测波段内辐射功率的关系,再使用测量装置对被测目标进行测量,根据标定的对应关系即可准确测得目标的辐射强度,从而实现了微弱红外目标辐射的测量。
搜索关键词: 适应 低温 真空 环境 微弱 红外 辐射 测量 装置 方法
【主权项】:
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