[发明专利]具有用多中心半径聚焦的圆角表面的结构的超声检查方法

摘要

本发明涉及具有用多中心半径聚焦的圆角表面的结构的超声检查方法，多中心半径聚焦用于检查具有变化的半径的圆角部分(10、22)的圆角表面(26)，而不需机械地调整阵列传感器(30、46)。多个聚焦定律经设计在与具有变化的半径的模拟的圆角表面的曲率中心对应的相应焦点处电子地转向和聚焦超声。承载该阵列传感器的机械探针(40)被定位到两个物理位置，这两个物理位置在半径区域的外部并具有小于圆角表面变化的半径而改变的空间关系。随着该探针沿圆角部分移动，该探针维持该阵列传感器处于相对于圆角部分的恒定位置。随着该阵列传感器扫描该圆角部分，对该阵列传感器进行电子调整，以依次地聚焦在相应的焦点处。