[发明专利]基于集成学习的软件缺陷预测方法、存储介质和计算设备在审

专利信息
申请号: 202110192553.1 申请日: 2021-02-20
公开(公告)号: CN112905468A 公开(公告)日: 2021-06-04
发明(设计)人: 陆璐;王志涵 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36;G06K9/62;G06N3/04;G06N20/20
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 郑浦娟
地址: 510640 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种基于集成学习的软件缺陷预测方法、存储介质和计算设备,方法包括首先进行软件模块预处理;然后构建基于神经网络的特征提取网络,提取出软件模块的语义特征;再通过挖掘软件缺陷跟踪系统或软件历史仓库,设计各种可衡量软件质量好坏的内在度量元;接着基于语义特征和内在度量元,利用分类算法分别训练得到多个基分类器;最后基于集成学习融合多个基分类器,获得最终的软件模块预测结果。本发明充分利用了软件模块的不同特征,可准确预测软件缺陷。
搜索关键词: 基于 集成 学习 软件 缺陷 预测 方法 存储 介质 计算 设备
【主权项】:
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