[发明专利]芯片验证方法、平台、装置、设备和存储介质在审
| 申请号： | 202110203134.3 | 申请日： | 2021-02-23 |
| 公开（公告）号： | CN112926285A | 公开（公告）日： | 2021-06-08 |
| 发明（设计）人： | 武甲东 | 申请（专利权）人： | 北京集创北方科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/398 | 分类号： | G06F30/398;G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京市京师律师事务所 11665 | 代理人： | 高晓丽 |
| 地址： | 100176 北京市北京经济技*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种芯片验证方法、平台、装置、设备和存储介质。验证方法包括：基于UVM构建芯片验证平台；利用验证平台验证芯片的设计。其中，所述基于UVM构建芯片验证平台，包括：构建数据包；构建主机代理器，用于实现数据包的主机发送操作；构建从机代理器，用于实现数据包的从机接受操作。根据本发明的芯片验证方法、平台、装置、设备和存储介质，具有验证效率高、验证周期短、可以实现可重用测试的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 验证 方法 平台 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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