[发明专利]一种地外天体的钻表异构式采样系统及方法有效
| 申请号： | 202110212607.6 | 申请日： | 2021-02-25 |
| 公开（公告）号： | CN113092158B | 公开（公告）日： | 2023-08-25 |
| 发明（设计）人： | 邓湘金;金晟毅;郑燕红;赵志晖;姚猛;杨孟飞;彭兢;李青;史伟;李晟 | 申请（专利权）人： | 北京空间飞行器总体设计部 |
| 主分类号： | G01N1/08 | 分类号： | G01N1/08 |
| 代理公司： | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人： | 廖辉;仇蕾安 |
| 地址： | 100094 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种地外天体的钻表异构式采样系统及方法，系统包括：装在地外天体采样航天器上的钻探采样模块、铲挖采样模块、样品封装模块和环境感知及视觉监测模块，铲挖采样模块与钻探采样模块对侧安装，样品封装模块在铲挖采样模块和钻探采样模块之间，环境感知及视觉监测模块的位置由铲挖采样模块、钻探采样模块和样品封装模块确定；方法为：钻探采样模块用于获取地外天体表层下方设定深度内的次表层土壤，铲挖采样模块用于获取地外天体表层土壤样品，二者采集到的样品均转移至样品封装模块中；环境感知及视觉监测模块，一用于获取钻探采样和铲挖采样的采样区地形结构，二用于对钻探采样、铲挖采样、样品封装以及样品转移过程进行视觉监测。 | ||
| 搜索关键词： | 种地 天体 钻表异构式 采样系统 方法 | ||
【主权项】：
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