[发明专利]三维半导体存储器装置在审

专利信息
申请号: 202110219013.8 申请日: 2021-02-26
公开(公告)号: CN113314539A 公开(公告)日: 2021-08-27
发明(设计)人: 郑圣勋;李秉一;李俊熙 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L27/11524 分类号: H01L27/11524;H01L27/11556;H01L27/1157;H01L27/11582
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 赵南;张帆
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种半导体装置,包括:衬底,其包括下水平层和上水平层,并且具有单元阵列区和连接区;电极结构,其包括堆叠在衬底上方并且从单元阵列区延伸至连接区的电极;单元阵列区上的垂直沟道结构,其贯穿电极结构,并且连接至衬底;以及连接区上的分离结构,其贯穿电极结构。下水平层具有:与分离结构的第一部分接触的第一顶表面,与分离结构的第二部分接触的第二顶表面,以及拐点,在该拐点处,下水平层的高度在第一顶表面与第二顶表面之间突然改变。
搜索关键词: 三维 半导体 存储器 装置
【主权项】:
暂无信息
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