[发明专利]一种磁芯阻抗特征分析方法及应用其的磁芯阻抗测试系统在审
申请号: | 202110219662.8 | 申请日: | 2021-02-26 |
公开(公告)号: | CN113030572A | 公开(公告)日: | 2021-06-25 |
发明(设计)人: | 方新政 | 申请(专利权)人: | 佛山市中研非晶科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R27/02 | 分类号: | G01R27/02 |
代理公司: | 广州科粤专利商标代理有限公司 44001 | 代理人: | 庞伟健;谭健洪 |
地址: | 528000 广东省佛山市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种磁芯阻抗特征分析方法,其包括如下步骤,S1、以动态的模拟电流信号进行输出;S2、对输出的模拟电流信号进行信号放大处理;S3、对信号放大处理所得的模拟电流信号作阻抗稳定调整处理;S4、使阻抗稳定调整处理后的模拟电流信号对被测磁芯作信号输入,并以阻抗分析设备对被测磁芯的阻抗进行检测;S5、根据阻抗分析设备检测所得的阻抗检测结果以进行被测磁芯的阻抗特征分析;通过了该磁芯阻抗特征分析方法的应用,能有效地进行被测磁芯的动态应用过程模拟,而测试所得有相应的阻抗特征,为产品的研发和应用指明方向。 | ||
搜索关键词: | 一种 阻抗 特征 分析 方法 应用 测试 系统 | ||
【主权项】:
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