[发明专利]适应多种封装的测试方法、装置、计算机设备及存储介质在审
| 申请号： | 202110220756.7 | 申请日： | 2021-02-26 |
| 公开（公告）号： | CN112948191A | 公开（公告）日： | 2021-06-11 |
| 发明（设计）人： | 李湘锦;张鹏;王伟良 | 申请（专利权）人： | 记忆科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/267 |
| 代理公司： | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人： | 涂年影 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区蛇口街道蛇*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种适应多种封装的测试方法、装置、计算机设备及存储介质，方法包括获取多种封装的待测试芯片；获取待测试芯片不同封装的可用IO数量；将待测试芯片不同封装的可用IO数量进行比较，筛选出可用IO数量最小的封装作为测试封装；初始化待测试芯片，并将预设的测试向量传输至测试封装的压缩器；通过压缩器的解压缩电路解压测试向量，得到测试向量并开始扫描测试待测试芯片。本方案通过筛选出可用IO数量最小的封装作为测试封装，并将测试向量传输至测试封装的压缩器，通过压缩器的解压缩电路解压测试向量，得到测试向量并开始扫描测试待测试芯片，能够适应因为多种封装的芯片并对芯片进行正常测试，保证测试可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 适应 多种 封装 测试 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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