[发明专利]电流芯片阶跃测试系统在审
| 申请号： | 202110225117.X | 申请日： | 2021-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN113092987A | 公开（公告）日： | 2021-07-09 |
| 发明（设计）人： | 孟永号 | 申请（专利权）人： | 重庆睿歌微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R35/00 |
| 代理公司： | 上海金盛协力知识产权代理有限公司 31242 | 代理人： | 王松 |
| 地址： | 401120 重庆市渝*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明揭示了一种电流芯片阶跃测试系统，包括主控系统、第一隔离电路、第二隔离电路、第一大电流开关、第二大电流开关、信号放大模块及电源输入接口；所述主控系统分别连接电源输入接口、第一隔离电路及第二隔离电路；所述第一隔离电路连接第一大电流开关，第一大电流开关能连接虚拟负载；所述第二隔离电路连接第二大电流开关，第二大电流开关能连接测试负载；所述虚拟负载能连接测试负载；所述信号放大模块能连接测试负载。本发明提出的电流芯片阶跃测试系统，可降低测试设备的价格，同时能对电流芯片进行多项测试。 | ||
| 搜索关键词： | 电流 芯片 阶跃 测试 系统 | ||
【主权项】：
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