[发明专利]三维测量系统、方法、装置、介质和电子设备有效
| 申请号： | 202110225854.X | 申请日： | 2021-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN112985302B | 公开（公告）日： | 2022-08-19 |
| 发明（设计）人： | 顾锦玮 | 申请（专利权）人： | 上海盛晃光学技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 孙宝海;袁礼君 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种三维测量系统、方法、装置、介质和电子设备，所述三维测量方法包括：获取投射到被测物体表面的光线在被测物体表面上经过镜面反射形成的光线的第一图像数据；获取投射到被测物体表面的光线在被测物体表面上经过漫反射形成的光线的第二图像数据；根据所述第一图像数据和第二图像数据的三维坐标信息重构所述被测物体表面的三维图像。本发明的技术方案可以提高对存在漫反射和镜面反射的复合反射表面进行三维测量的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 三维 测量 系统 方法 装置 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
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