[发明专利]一种块存储器单粒子翻转防护设计定量评估方法及装置在审

专利信息
申请号: 202110227655.2 申请日: 2021-03-01
公开(公告)号: CN112966459A 公开(公告)日: 2021-06-15
发明(设计)人: 王群勇;白桦;孙旭朋 申请(专利权)人: 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司
主分类号: G06F30/33 分类号: G06F30/33;G06F111/08
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王治东
地址: 100089 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种块存储器单粒子翻转防护设计定量评估方法及装置。其中,该方法包括:确定SRAM型FPGA中可配置逻辑单元和块存储器内各模块的存储资源数据、对应的刷新周期以及对应的单位数据翻转率;在同一存储单元的三路中同时出现两路错误的单粒子防护效能情况下,基于不同的算法模型分别得到所述块存储器部位错误导致的错误率、所述自刷新器错误导致的错误率以及所述表决器错误导致的错误率;基于所述块存储器部位错误导致的错误率、所述自刷新器错误导致的错误率以及所述表决器错误导致的错误率,得到块存储器错误率定量评估结果。采用本发明公开的方法,能够实现单粒子防护效能进行定量评估,提高资源使用和防护效果之间的优化配置效率和可靠性。
搜索关键词: 一种 存储器 粒子 翻转 防护 设计 定量 评估 方法 装置
【主权项】:
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