[发明专利]高密度三维可编程存储器的制备方法在审
申请号: | 202110233574.3 | 申请日: | 2021-03-03 |
公开(公告)号: | CN113035874A | 公开(公告)日: | 2021-06-25 |
发明(设计)人: | 彭泽忠 | 申请(专利权)人: | 成都皮兆永存科技有限公司 |
主分类号: | H01L27/112 | 分类号: | H01L27/112;H01L27/115 |
代理公司: | 成都惠迪专利事务所(普通合伙) 51215 | 代理人: | 刘勋 |
地址: | 610000 四川省成都市高新*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 高密度三维可编程存储器的制备方法,涉及存储器的制备技术。本发明包括下述步骤:1)形成基础结构体;2)对基础结构体开槽;3)在分割槽的内壁逐层设置预设的存储器结构所需的各存储介质层;4)在分割槽中填充核心介质,形成核心介质层;5)采用掩膜下刻蚀工艺,沿填充有核心介质的分割槽刻蚀深孔,由深孔截断分割槽中的核心介质;6)在深孔中填充绝缘介质。本发明成本低,可以取得最高的存储密度。 | ||
搜索关键词: | 高密度 三维 可编程 存储器 制备 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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