[发明专利]用于非接触式感测物质的基准开关架构在审
| 申请号： | 202110242820.1 | 申请日： | 2016-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN112985603A | 公开（公告）日： | 2021-06-18 |
| 发明（设计）人： | M·M·坎加斯;M·A·阿尔伯雷;D·I·西蒙;M·J·比邵普;J·希伦达尔;R·陈 | 申请（专利权）人： | 苹果公司 |
| 主分类号： | G01J3/42 | 分类号： | G01J3/42;G01J3/433;G01J3/447;G01N21/27;G01N21/47;G01J3/32;G01J3/36;G01J3/02 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 李玲 |
| 地址： | 美国加*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开涉及用于非接触式感测物质的基准开关架构。本发明涉及用于在采样界面处测量样本(620)中的物质的浓度和类型的系统(600)和方法。所述系统(600)包括光源(602)、一个或多个光学器件(606,610,612)、一个或多个调制器(634,636)、基准(608)、检测器(630)以及控制器(640)。所公开的所述系统和所述方法能够通过在不同的测量光路之间共享一个或多个部件来考虑源自所述光源、一个或多个光学器件和所述检测器的漂移。另外，通过在所述光源与所述样本或基准之间放置一个或多个调制器，所述系统能够区分不同类型的漂移并且消除因杂散光导致的错误测量。此外，通过将检测器像素和微光学器件映射到所述样本中的位置和深度，所述系统能够沿着所述样本内的各种位置和深度检测所述物质。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 接触 式感测 物质 基准 开关 架构 | ||
【主权项】：
暂无信息
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