[发明专利]一种MKIDs超导探测器阵列像元工作状态及位置的判别方法有效
申请号: | 202110242906.4 | 申请日: | 2021-03-05 |
公开(公告)号: | CN113092857B | 公开(公告)日: | 2022-08-05 |
发明(设计)人: | 吕伟涛;李婧;史生才 | 申请(专利权)人: | 中国科学院紫金山天文台 |
主分类号: | G01R23/07 | 分类号: | G01R23/07 |
代理公司: | 南京钟山专利代理有限公司 32252 | 代理人: | 苏良 |
地址: | 210023 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种MKIDs超导探测器阵列像元工作状态及位置的判别方法,包括骤:搭建亚K低温测试系统,测试待测MKIDs探测器阵列芯片的原始谐振频率响应;保持亚K低温测试系统和待测MKIDs探测器阵列芯片安装状态不变,使用影响像元谐振特性的介质附着在待标定探测器像元的表面;保持亚K低温测试系统不变,重新测试待测MKIDs探测器阵列芯片的谐振频率响应;比对两次实测的探测器阵列谐振频率响应,有频率偏移的谐振即为标定的探测器像元。本发明可解决MKIDs超导探测器阵列部分像元的频率偏移和错位的问题,进而提高MKIDs超导微波动态电感探测器的成像准确性。 | ||
搜索关键词: | 一种 mkids 超导 探测器 阵列 工作 状态 位置 判别 方法 | ||
【主权项】:
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