[发明专利]片上自测试系统及方法有效

专利信息
申请号: 202110243237.2 申请日: 2021-03-05
公开(公告)号: CN112630626B 公开(公告)日: 2021-10-22
发明(设计)人: 陆明;杨帆;李岩;周丕森;肖青;姜培;史方 申请(专利权)人: 光梓信息科技(上海)有限公司;光梓信息科技(深圳)有限公司
主分类号: H03M1/10 分类号: H03M1/10;G01R31/28
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 庞红芳
地址: 201203 上海市浦东新区中国(上海)*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 本申请提供片上自测试系统及方法。所述片上自测试系统包括:测试控制器,信号发生器,时钟发生器以及数字信号处理器;所述测试控制器控制外部输入的参考时钟信号同时输入至信号发生器和时钟发生器;所述时钟发生器为被测模数转换器模块提供所需的时钟信号;所述信号发生器用于产生被测模数转换器模块所需的信号,并输出至被测模数转换器模块,以使得被测模数转换器模块对从信号发生器接收的信号进行模数转换后输出数字信号;所述数字信号处理器用于对被测模数转换器模块输出的数字信号进行测试,并输出测试结果信号。本申请通过设置于模数转换器内部的片上自测试系统对被测模数转换器模块进行测试,无需昂贵专用的自动化测试设备,有效节省测试成本,提高测试精度。
搜索关键词: 测试 系统 方法
【主权项】:
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