[发明专利]一种芯片低功耗验证方法有效
| 申请号： | 202110244312.7 | 申请日： | 2021-03-04 |
| 公开（公告）号： | CN112861458B | 公开（公告）日： | 2023-08-04 |
| 发明（设计）人： | 文进;霍静;秦韦俊;熊科宇;何晨瑶;孙伟;梁伯植 | 申请（专利权）人： | 西安石油大学 |
| 主分类号： | G06F30/3308 | 分类号： | G06F30/3308;G06F30/327 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 马贵香 |
| 地址： | 710065 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明提供一种芯片低功耗验证方法，包括：模拟芯片初始掉电状态；模拟芯片上电复位；读取boot模式及启动地址，读取CPU指令，按照芯片低功耗场景进行用例配置，CPU配置待机；配置深睡场景的子系统处于掉电状态，唤醒到来后，可以从掉电状态直接恢复到上电状态，唤醒方式需要进行遍历测试；配置浅睡场景的子系统不掉电，处于待机状态，唤醒来临后，从待机状态直接恢复到工作状态。低功耗用例采用SVA断言对掉电上电时序实时监测，减少验证的人工检查工作量，大大提高工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 功耗 验证 方法 | ||
【主权项】：
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