[发明专利]一种半导体电阻检测系统及其检测方法有效

专利信息
申请号: 202110247063.7 申请日: 2021-03-05
公开(公告)号: CN112730989B 公开(公告)日: 2023-01-17
发明(设计)人: 孟庆超 申请(专利权)人: 国网浙江宁波市鄞州区供电有限公司;宁波市永能电力产业投资有限公司鄞州电气分公司
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02;G01R15/00;G01R1/04
代理公司: 宁波甬致专利代理有限公司 33228 代理人: 杨挺
地址: 315000 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种半导体电阻检测系统及其检测方法,包括底板,所述底板上端两侧均固定设置有立柱,所述立柱上端固定设置有固定环,所述固定环上端外侧表面开设有第一滑槽,所述第一滑槽内部活动设置有第一滑块,所述第一滑块上端设置有调节机构,所述调节机构包括转动环、第一安装座、横杆、第一电动机、第一锥齿轮、第一滑杆、第一螺杆、第二锥齿轮,所述第一滑块上端固定设置有转动环。本发明使用效果好,检测头可以根据所检测的元器件表面电路高低差,自动调节器位置,从而可以方便进行检测工作,同时检测头的位置可以多角度多范围进行调节,从而可以适应检测多种不同的元件。
搜索关键词: 一种 半导体 电阻 检测 系统 及其 方法
【主权项】:
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