[发明专利]一种电路元器件工作寿命抽样检验方法在审
| 申请号： | 202110248555.8 | 申请日： | 2021-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN112906231A | 公开（公告）日： | 2021-06-04 |
| 发明（设计）人： | 张南法;束静;张梅 | 申请（专利权）人： | 常州市创捷防雷电子有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06F111/08;G06F119/04;G06F119/08;G06F119/14 |
| 代理公司： | 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 | 代理人： | 丁燕华 |
| 地址： | 213000 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电路元器件工作寿命抽样检验方法，适用于形状参数β为已知的Weibull寿命分布电路元器件的工作寿命抽样，采用定时截尾一次计数抽样检验方法，即从总体中抽出规定的样本容量n,在规定的工作应力下，试验到规定时间t时截止试验，试验中出现的不合格样品数r，不应超过规定的合格判定数c。本发明设计的抽样检验方案，解决了目前压敏电阻器(MOV)和避雷器阀片(MOA)无寿命评定方法可循的难题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电路 元器件 工作 寿命 抽样 检验 方法 | ||
【主权项】：
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