[发明专利]一种基于差异测试的FPGA综合工具缺陷检测方法有效
| 申请号： | 202110251720.5 | 申请日： | 2021-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN112948193B | 公开（公告）日： | 2023-10-17 |
| 发明（设计）人： | 江贺;张漪;施重阳;刘辉 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京正阳理工知识产权代理事务所(普通合伙) 11639 | 代理人： | 王民盛 |
| 地址： | 100081 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于差异测试的FPGA综合工具缺陷检测方法，属于计算机软件测试技术领域。本发明通过使用可供比较的参考FPGA综合工具，给定一个测试代码，将测试代码生成与其等价的变异代码，这些参考的FPGA综合工具和待测工具将对其执行编译得到各自的执行结果。由于参考综合工具和待测的FPGA综合工具在差异测试中遵循相同规约，其执行结果相同。因此，通过比较待测工具与参考工具的执行结果的一致，能够有效判断待测工具是否存在缺陷。本发明方法对比现有技术，通过变异产生有效的FPGA综合工具测试的测试种子用例，能够有效检测综合工具中存在的缺陷，并将其缺陷报告进行保存，可供开发人员快速的修复Bug。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 差异 测试 fpga 综合 工具 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
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