[发明专利]触摸感测设备及检测其触摸坐标的方法在审
| 申请号： | 202110253176.8 | 申请日： | 2021-03-04 |
| 公开（公告）号： | CN113391717A | 公开（公告）日： | 2021-09-14 |
| 发明（设计）人： | 朴世情 | 申请（专利权）人： | 硅工厂股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/041 | 分类号： | G06F3/041;G06F3/044 |
| 代理公司： | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人： | 王达佐;王艳春 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 公开一种在触摸感测设备中检测触摸坐标的方法。检测触摸坐标的方法可包括计算触摸点的触摸坐标，确定是否需要校正触摸坐标，当需要校正触摸坐标时，将参考坐标和触摸坐标之间的第一距离扩展至第二距离，并通过使用第二距离的值来校正触摸坐标。 | ||
| 搜索关键词： | 触摸 设备 检测 标的 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于硅工厂股份有限公司，未经硅工厂股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110253176.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：安全气囊装置的制造方法及安全气囊装置
- 下一篇：干燥抑制设备和细胞培养套件
