[发明专利]用于获取空间光调制器相位调制曲线的测试方法及测试系统在审
| 申请号： | 202110253930.8 | 申请日： | 2021-03-09 |
| 公开（公告）号： | CN112802154A | 公开（公告）日： | 2021-05-14 |
| 发明（设计）人： | 武耀霞;高宇;高星;王华 | 申请（专利权）人： | 西安中科微星光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T11/20 | 分类号： | G06T11/20;G06T11/00;G06T7/66;G06T5/00;G02F1/13;G02B27/00 |
| 代理公司： | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人： | 魏毅宏 |
| 地址： | 710000 陕西省西安市高新区毕原*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明适用于空间光调制器的测试应用领域，公开了用于获取空间光调制器相位调制曲线的测试方法及测试系统，该测试方法包括：绘制灰度渐变图；搭建光路系统，光路系统的空间光调制器根据灰度渐变图的灰度值对结构光进行相位调制，经过相位调制的结构光与参考光发生干涉形成干涉条纹；采集干涉条纹，生成干涉条纹图像；处理干涉条纹图像，生成干涉条纹曲线图；信息处理模块根据干涉条纹曲线图和灰度渐变图的信息输出灰度相位曲线；在测试中，空间光调制器能一次性加载一个区间值内的灰度值对应的灰度渐变图，光路系统能够一次性输出一个区间值内的灰度值中每个灰度值对应的干涉条纹，能够提高处理速度和提高测试精度。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 获取 空间 调制器 相位 调制 曲线 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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